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高速数字接口与光电测试
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包装:平装
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出版社:清华大学
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ISBN:9787302590408
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作者:李凯|责编:文怡
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页数:425
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出版日期:2022-01-01
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印刷日期:2022-01-01
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开本:16开
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版次:1
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印次:1
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字数:665千字